![]() | 溫度測試 在預(yù)期的溫度范圍內(nèi),對晶體在溫度室內(nèi)進(jìn)行100%的頻率特性測試。 |
溫度測試箱 |
![]() | 初始和最終晶體測試 測試晶體的運(yùn)動(dòng)參數(shù),并將其分類為頻率組。 在高溫下老化一段時(shí)間后,將再次測試運(yùn)動(dòng)參數(shù),以確保將參數(shù)保持在所需的工藝規(guī)格范圍內(nèi)。這是突出顯示任何過程問題的必要SPC(統(tǒng)計(jì)過程控制)點(diǎn)。
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水晶測試儀 | |
![]() | PCB組裝,晶體匹配和TCXO組裝 PCB板經(jīng)過焊膏篩選,元件拾取和放置以及IR回流生產(chǎn)線。 晶體與組裝的PCB相匹配。這還允許一個(gè)較窄的修整范圍,從而使振蕩器的頻率調(diào)諧變得更加容易。 |
表面貼裝機(jī) |
![]() | 最終的質(zhì)量控制和包裝 檢查晶體的腿部形成,夾層和標(biāo)記。然后由我們的OQC部門包裝并釋放晶體。 |
質(zhì)檢站 |